Solartron 1260A 頻率響應分析儀
- 論文引用次數最多、參考次數最多、最受歡迎的阻抗分析儀
- 適用於固態材料,頻率範圍寬,從 32 MHz 到 10 µHz(超過 12 個十年)
- 阻抗範圍從 100 mOhm 到 100 TOhm,使用 1296A 介電接口
- 能夠使用 1287A 電化學介面進行直流恆電位和恆定電流實驗
- 由 SMaRT 軟體控制,並可選配 ZPLOT
- 1260A 阻抗分析儀代表了 Solartron 一流的測量性能。
1260A 增益-相位分析儀 (Gain-Phase Analyzer / FRA)
1260A 增益-相位分析儀(又稱頻率響應分析儀,FRA)是 FRA 技術的核心。
它可作為獨立儀器使用,但與 1296A 介電介面 (Dielectric Interface) 搭配後,其應用範圍在材料測試中將大幅擴展,可進行高頻率與高阻抗測量。
應用與軟體 (Applications and Software)
1260A 阻抗/增益-相位分析儀是目前最強大、最精確、最靈活的頻率響應分析儀之一。
它在全球頂尖研究人員的日常研究中被廣泛使用,特別是在量測精度與實驗可靠性至關重要的領域。
許多研究論文在以下領域中都引用了 1260A 的數據:
- 腐蝕研究
- 電池與燃料電池
- 太陽能電池
- 液晶顯示器 (LCD)
- 生物材料
- 陶瓷 / 複合材料
- 電子元件開發
- 土木工程
超廣頻率範圍:10 μHz ~ 32 MHz 的超大頻率範圍,解析度達 0.015 ppm,可覆蓋幾乎所有的化學與分子機制,僅需一台儀器即可完成。
無與倫比的精度:測量精度:0.1% / 0.1° 。即使是樣品中最細微的行為變化也能被檢測與量化
無雜訊分析技術:1260A 採用 Solartron Analytical 專利的單正弦相關技術 (Single-Sine Correlation Technique),可消除雜訊與諧波失真,這是一般儀器所無法做到的。
主要性能:
- 頻率解析度:1/65,000,000(0.015 ppm)
- 精度:0.1%、0.1°,同類產品中無人能及
- 幅度解析度:0.001 dB、相位解析度:0.01°,可捕捉所有細節
- 可測量超過 100 MΩ 的高阻抗
- 支援 2、3、4 端子測量
- 偏壓電壓可達 ±40.95 V
- 搭配 ZPlot 軟體,簡化實驗流程並提升效率
系統整合 (Systems)
1260A 可與 Solartron Analytical 的其他產品及應用軟體整合,組成先進的電化學與材料量測系統,提供極高的精確度、靈活性與可靠性,即使是最複雜的研究課題也能勝任。
阻抗測量 (Impedance Measurement)
幾乎所有液體與固體在施加電壓時都能導通電流。
若施加交流電壓 (AC),電壓與電流的比值即為阻抗 (Impedance)。
測得的阻抗會隨頻率變化,這種變化反映了材料的性質,例如:
- 材料的物理結構
- 材料內部的化學過程
- 或兩者的綜合效應
- 阻抗量測的優勢
- 資料獲取速度快
- 測量準確、可重複性高
- 非破壞性測試
- 適用範圍極廣
- 可透過不同頻率範圍分析區分電極效應、擴散、質量/電荷轉移等現象
- 可利用等效電路/模型技術對結果進行詳細分析
| Specifications | ModuLab XM MTS | Materials Lab XM | 1260A / 1296A |
| Maximum Frequency | 1 MHz | 1 MHz | 32 MHz |
| Combines with DC for Electrochemical Measurements |
Yes, with XM PSTAT 1 MS/s | No | Yes, with 1287A Electrochemical Interface |
| Highest Impedance | 100 TOhms | 1 TOhms | 100 TOhms |
| Low Impedance | 10 µOhms | 1 mOhms | 100 mOhms |
| Software | XM Studio | XM Studio | SMaRT, ZPLOT |