Solartron 1260A 頻率響應分析儀

Solartron 1260A 頻率響應分析儀

  • 論文引用次數最多、參考次數最多、最受歡迎的阻抗分析儀
  • 適用於固態材料,頻率範圍寬,從 32 MHz 到 10 µHz(超過 12 個十年)
  • 阻抗範圍從 100 mOhm 到 100 TOhm,使用 1296A 介電接口
  • 能夠使用 1287A 電化學介面進行直流恆電位和恆定電流實驗
  • 由 SMaRT 軟體控制,並可選配 ZPLOT 
  • 1260A 阻抗分析儀代表了 Solartron 一流的測量性能。

1260A 增益-相位分析儀 (Gain-Phase Analyzer / FRA)

1260A 增益-相位分析儀(又稱頻率響應分析儀,FRA)是 FRA 技術的核心。
它可作為獨立儀器使用,但與 1296A 介電介面 (Dielectric Interface) 搭配後,其應用範圍在材料測試中將大幅擴展,可進行高頻率與高阻抗測量。

應用與軟體 (Applications and Software)

1260A 阻抗/增益-相位分析儀是目前最強大、最精確、最靈活的頻率響應分析儀之一。
它在全球頂尖研究人員的日常研究中被廣泛使用,特別是在量測精度與實驗可靠性至關重要的領域。
許多研究論文在以下領域中都引用了 1260A 的數據:

  • 腐蝕研究
  • 電池與燃料電池
  • 太陽能電池
  • 液晶顯示器 (LCD)
  • 生物材料
  • 陶瓷 / 複合材料
  • 電子元件開發
  • 土木工程

 

超廣頻率範圍:10 μHz ~ 32 MHz 的超大頻率範圍,解析度達 0.015 ppm,可覆蓋幾乎所有的化學與分子機制,僅需一台儀器即可完成。

無與倫比的精度:測量精度:0.1% / 0.1° 。即使是樣品中最細微的行為變化也能被檢測與量化

無雜訊分析技術:1260A 採用 Solartron Analytical 專利的單正弦相關技術 (Single-Sine Correlation Technique),可消除雜訊與諧波失真,這是一般儀器所無法做到的。

主要性能:

  • 頻率解析度:1/65,000,000(0.015 ppm)
  • 精度:0.1%、0.1°,同類產品中無人能及
  • 幅度解析度:0.001 dB、相位解析度:0.01°,可捕捉所有細節
  • 可測量超過 100 MΩ 的高阻抗
  • 支援 2、3、4 端子測量
  • 偏壓電壓可達 ±40.95 V
  • 搭配 ZPlot 軟體,簡化實驗流程並提升效率

系統整合 (Systems)

1260A 可與 Solartron Analytical 的其他產品及應用軟體整合,組成先進的電化學與材料量測系統,提供極高的精確度、靈活性與可靠性,即使是最複雜的研究課題也能勝任。

阻抗測量 (Impedance Measurement)

幾乎所有液體與固體在施加電壓時都能導通電流。
若施加交流電壓 (AC),電壓與電流的比值即為阻抗 (Impedance)。
測得的阻抗會隨頻率變化,這種變化反映了材料的性質,例如:

  • 材料的物理結構
  • 材料內部的化學過程
  • 或兩者的綜合效應
  • 阻抗量測的優勢
  • 資料獲取速度快
  • 測量準確、可重複性高
  • 非破壞性測試
  • 適用範圍極廣
  • 可透過不同頻率範圍分析區分電極效應、擴散、質量/電荷轉移等現象
  • 可利用等效電路/模型技術對結果進行詳細分析
Specifications ModuLab XM MTS Materials Lab XM 1260A / 1296A
Maximum Frequency 1 MHz 1 MHz 32 MHz
Combines with DC for
Electrochemical Measurements
Yes, with XM PSTAT 1 MS/s No Yes, with 1287A
Electrochemical Interface
Highest Impedance 100 TOhms 1 TOhms 100 TOhms
Low Impedance  10 µOhms  1 mOhms  100 mOhms
       
Software XM Studio XM Studio  SMaRT, ZPLOT