泵浦探測光譜Pump Probe 可用於研究材料的超快動態,搭配鎖相放大器或 Boxcar 平均器,可提升微弱訊號的訊噪比,更清楚地觀察激發態的衰減過程。
多頻原子力顯微鏡MF-AFM可同時分析不同振動模態與諧波,取得更完整的探針與樣品交互作用資訊
C–V 特性分析、寬頻阻抗頻譜、摻雜濃度、載子分布、等效電路、溫度控制、多功能半導體分析。
半導體 I–V、脈衝量測、C–V 與EIS阻抗分析整合於單一平台,靈活應用於半導體元件的漏電流、遲滯效應及動態響應分析。